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一文搞懂試驗(yàn)探針的使用方法及其注意事項(xiàng)
更新時(shí)間：2022-09-29 點(diǎn)擊次數(shù)：1235
1、標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指的關(guān)節(jié)部分不能觸及帶電部件或不能接近危險(xiǎn)部件，并且35mm的圓擋板不能進(jìn)入。
2、防止接近危險(xiǎn)部件的試驗(yàn)要求中，C、D型試驗(yàn)探棒需帶3±0.3NN或1±0.1N推力。
注意：不帶推力產(chǎn)品請(qǐng)配合推拉力計(jì)使用。
試驗(yàn)探針的使用注意事項(xiàng)：
(1)請(qǐng)不要輕易調(diào)整推力，如需調(diào)整，請(qǐng)使用分辨至少為0.033N儀器對(duì)C、D型試驗(yàn)探棒進(jìn)行校準(zhǔn)。
(2)由于試驗(yàn)探棒較為精密機(jī)械產(chǎn)品，使用時(shí)請(qǐng)輕拿輕放，妥善保管。
(3)試驗(yàn)探棒頂部可能會(huì)生銹，注意保養(yǎng)防護(hù)。
試驗(yàn)探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為：
1、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；
2、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；
3、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。
探針根據(jù)主要類型可以分為：懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針：劈刀型(BladeType)和環(huán)氧樹脂型(EpoxyType)
垂直探針：垂直型(VerticalType)
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